特許

J-GLOBAL ID：200903041740551683

マイクロ波レベル計による溶融金属レベル及びスラグ層厚の測定方法及び装置

発明者： 堤 竜二
出願人/特許権者： JFEスチール株式会社
代理人 (1件)： 高矢 諭 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-151081
公開番号（公開出願番号）：特開2003-344142
出願日： 2002年05月24日
公開日（公表日）： 2003年12月03日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】 スラグがフォーミングしてスラグ層厚が変動している場合でも、溶融金属のレベルやスラグ層厚を精度良く測定する測定方法及び装置を提供する。【解決手段】表面にスラグ12が浮遊している溶融金属の表面11に向けてマイクロ波26を入射し、マイクロ波の反射波の強度を経時的に記録し、該反射波の強度の最高値を示すピークAに相当する最高ピーク時と、該最高ピーク時の後に生じる最初の小ピークBの小ピーク時とを計測し、マイクロ波の入射時から前記小ピーク時までの時間にマイクロ波が進む距離を基に溶融金属の表面レベルを求め、前記最高ピーク時から前記小ピーク時までの時間にマイクロ波が進む距離を基にスラグ層厚を求める。

請求項（抜粋）：

表面にスラグが浮遊している溶融金属の表面レベルを測定するための方法であって、溶融金属の上方より溶融金属の表面へ向けてマイクロ波を入射し、該マイクロ波の反射波の強度を経時的に記録すると共に、該反射波の強度の最高値を示すピークに相当する最高ピーク時と該最高ピーク時の後に生じる最初の小ピークの小ピーク時とを計測し、マイクロ波の入射時から前記小ピーク時までの時間にマイクロ波が進む距離を基に溶融金属の表面レベルを測定することを特徴とする、マイクロ波レベル計による溶融金属の表面レベル測定方法。

IPC (9件)：

G01F 23/284 ,  C21C 5/46 ,  G01N 22/00 ,  C21B 7/24 ,  C21B 11/00 ,  C21C 1/06 ,  C21C 5/52 ,  C21C 7/00 ,  C22B 9/16

FI (9件)：

C21C 5/46 B ,  G01N 22/00 S ,  C21B 7/24 ,  C21B 11/00 ,  C21C 1/06 ,  C21C 5/52 ,  C21C 7/00 R ,  C22B 9/16 ,  G01F 23/28 D

Fターム (16件)：

2F014AC06 ,  2F014FC01 ,  4K001DA05 ,  4K001GA03 ,  4K001GA06 ,  4K001GA16 ,  4K001GA18 ,  4K001GB11 ,  4K012CA09 ,  4K012CA10 ,  4K013FA00 ,  4K014AD01 ,  4K014AD17 ,  4K014AD21 ,  4K015KA00 ,  4K070BE20