特許

J-GLOBAL ID：200903041742933028

半導体装置

発明者： 内 山 勝 晴
出願人/特許権者： 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社 ,  株式会社東芝
代理人 (1件)： 佐藤 一雄 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-158917
公開番号（公開出願番号）：特開2001-339304
出願日： 2000年05月29日
公開日（公表日）： 2001年12月07日
要約：

【要約】【課題】 A/Dコンバータを内蔵した半導体装置に対して許容誤差を設定してテストを行う場合、短時間かつ低コストで実現することを目的とする。【解決手段】 入力ポート105に、A/D変換の許容誤差の範囲を示す上限値及び下限値が入力される。アナログ電圧を入力されたA/Dコンバータ102がA/D変換を行い、ディジタルデータを出力する。良否判定部103が、許容誤差の範囲内にディジタルデータが含まれるか否かを判定する。出力ポート104が、この良否判定結果を出力する。このように、許容誤差を考慮した良否判定を行う構成を装置内部に備えたことにより、従来複雑だった良否判定処理を簡素化し、テスト時間及びコストを低減することができる。

請求項（抜粋）：

アナログ信号を入力されてアナログ/ディジタル変換を行い、変換結果を出力するアナログ/ディジタル・コンバータと、前記変換結果に対する上限値及び下限値を設定する上限値及び下限値設定手段と、前記変換結果が、前記上限値と前記下限値との範囲内に入っているか否かを判定し、判定結果を出力する良否判定部と、を備えることを特徴とする半導体装置。

IPC (6件)：

H03M 1/10 ,  G01R 31/316 ,  G01R 31/28 ,  H01L 27/04 ,  H01L 21/822 ,  H03M 1/12

FI (6件)：

H03M 1/10 C ,  H03M 1/12 C ,  G01R 31/28 C ,  G01R 31/28 V ,  H01L 27/04 T ,  H01L 27/04 F

Fターム (23件)：

2G032AA03 ,  2G032AA09 ,  2G032AB01 ,  2G032AC03 ,  2G032AK11 ,  2G032AK15 ,  2G032AK19 ,  2G032AL00 ,  5F038DF03 ,  5F038DF04 ,  5F038DF05 ,  5F038DT04 ,  5F038DT05 ,  5F038DT08 ,  5F038DT17 ,  5F038DT19 ,  5F038EZ20 ,  5J022AA01 ,  5J022AC04 ,  5J022BA05 ,  5J022CC02 ,  5J022CD02 ,  5J022CG01