特許
J-GLOBAL ID:200903041772027544

分岐結合素子における分岐特性推定装置および分岐特性推定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 三好 秀和 (外4名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-048485
公開番号(公開出願番号):特開2003-247914
出願日: 2002年02月25日
公開日(公表日): 2003年09月05日
要約:
【要約】【課題】 本発明は、光ファイバカプラに固有の位相差を簡易に測定することができる光ファイバカプラにおける分岐特性推定装置および分岐特性推定方法を提供することにある。【解決手段】 光ファイバカプラ15に設けられた複数の入力ポートの1つから複数の出力ポートの1つに分岐するように組み合わせ、A/D変換器29により変換された電力データの組み合わせにより表す挿入損失データをRAM27に記憶しておき、この挿入損失データに基づいて挿入損失データのずれ量を算出し、挿入損失データのずれ量に基づいて、結合係数kmnと光ファイバカプラ15の結合長Lとの積により表すことができる複素伝送行列[A]を分岐特性として推定する。
請求項(抜粋):
光信号を入射する複数の入力ポートと、複数の入力ポートと結合した後に分岐した光信号を出射する複数の出力ポートとを有する分岐結合素子に対して、入力ポート-出力ポート間の結合の度合いを表す結合係数、入力ポート-出力ポート間での位相差を当該分岐結合素子の分岐特性として推定する分岐特性推定装置であって、前記分岐結合素子から出射された光信号を入射して電気信号に変換する受光素子と、前記受光素子から出力された電気信号をデジタル化された電力データに変換するA/D変換手段とを備え、前記分岐結合素子に設けられた複数の入力ポートの1つから複数の出力ポートの1つに分岐するように組み合わせ、前記A/D変換手段により変換された電力データの組み合わせにより表す挿入損失データを記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された挿入損失データに基づいて挿入損失データのずれ量を算出するずれ量算出手段と、前記ずれ量算出手段により算出された挿入損失データのずれ量に基づいて、前記結合係数と前記分岐結合素子の結合長との積により表すことができる複素伝送行列を前記分岐特性として推定する推定手段とを備えたことを特徴とする分岐結合素子における分岐特性推定装置。
IPC (2件):
G01M 11/02 ,  G02B 6/28
FI (2件):
G01M 11/02 J ,  G02B 6/28 E
Fターム (2件):
2G086KK02 ,  2G086KK07
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特開昭63-182541
  • 特開平4-095746

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