特許

J-GLOBAL ID：200903041791746390

高分解能X線CT装置

発明者： 山内 泰 ,  岸本 直樹 ,  生田 孝
出願人/特許権者： 科学技術庁金属材料技術研究所長
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-315195
公開番号（公開出願番号）：特開平6-027049
出願日： 1991年11月05日
公開日（公表日）： 1994年02月04日
要約：

【要約】【構成】 X線を照射するX線源と、物体のX線像を可視光に変換する螢光板と、可視光像を検出する撮像素子と、3次元相当のCTデータを逆投影処理する演算処理装置および3次元断層像の表示装置を有し、物体を回転させながら、平行投影されたX線像をサブミクロン柱状微結晶CsI膜の螢光板により可視光に変換する。【効果】 縦横任意の方向の断面の数ミクロン以下の微細な構造を観察できる。このため材料のより詳細な3次元構造そのものを実用時間内に見ることができ、高度な材料の解析・評価を可能にするそして、この発明の本装置は新しい3次元顕微鏡装置として、あるいは高度な非破壊材料評価装置として広く応用される。

請求項（抜粋）：

X線を照射するX線源と、物体のX線像を可視光に変換する螢光板と、可視光像を検出する撮像素子と、3次元相当のCTデータを逆投影処理する演算処理装置および3次元断層像の表示装置を有し、物体を回転させながら、平行投影されたX線像をサブミクロン柱状微結晶CsI膜の螢光板により可視光に変換することを特徴とする高分解能X線CT装置。

IPC (2件)：

G01N 23/04 ,  C23C 14/06