特許

J-GLOBAL ID：200903041800128068

EMI自動計測装置

発明者： 椛島 正明
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 田澤 博昭 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-091442
公開番号（公開出願番号）：特開平5-264619
出願日： 1992年03月18日
公開日（公表日）： 1993年10月12日
要約：

【要約】【目的】 電子機器からの不要電波を全て自動的に検出するEMI自動計測装置を得る。【構成】 ディスプレイモニタ1を1回転させたときのアンテナ4の受信信号をスペクトルアナライザ6に加え、その最大出力及び周波数をコンピュータ7で検出してメモリし、次に再び1回転させてその間に得られる電波の大きさ及び周波数と上記メモリした値とを比較して不要電波を検出する。【効果】 精度の高いチェックができる。

請求項（抜粋）：

被測定機器を回転させながら、この被測定機器から発生する電波をアンテナで受信し、その受信信号をスペクトルアナライザで分析し、その分析結果に基づいて不要電波を検出するEMI自動計測装置において、上記被測定機器を1回転させ、この間に上記スペクトルアナライザで分析された電波の最大値における周波数及び電界強度を記憶させ、次に上記被測定機器を1回転させ、この間に上記スペクトルアナライザから得られる電波の周波数及び電界強度と上記記憶された周波数及び電界強度とを比較することにより不要電波を検出する演算制御手段を設けたことを特徴とするEMI自動計測装置。