結晶性評価方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：小池晃 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-252502
公開番号（公開出願番号）：特開平8-114548
出願日： 1994年10月18日
公開日（公表日）： 1996年05月07日
要約：

【要約】【目的】特に多結晶フェライト加工面について、微細な分析領域にてその結晶性をほぼ定量的に判定することを可能とする。【構成】対象とする試料をフェライト、特にMn-Zn多結晶フェライトとし、そのスピネル(正常結晶)の割合を測定することにより結晶層の厚みを同定し、その結果を用いて変質層の厚みを同定する。

請求項（抜粋）：

顕微ラマン分光法を用いて、試料の加工面における分析深さ領域のうち、長距離秩序を有する結晶層の厚みを同定することにより、表面加工により結晶性に乱れが生じた変質層の厚みを同定して、前記加工面の結晶性を評価することを特徴とする結晶性評価方法。

引用特許：

審査官引用 (4件)

特開昭53-027483
特開平2-143131
走査型分析顕微鏡
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-245787 出願人：富士写真フイルム株式会社

全件表示

前のページに戻る