特許
J-GLOBAL ID：200903041976959632
穀粒の検出装置
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-009786
公開番号（公開出願番号）：特開平9-196854
出願日： 1996年01月24日
公開日（公表日）： 1997年07月31日
要約：
【要約】【課題】肌摺れ玄米の検出精度の向上。【解決手段】発光手段1からの光は、偏光手段により直線に偏光されて玄米に照射され、玄米からの反射光はそのランダム偏光が偏光板4で除去され、カラ-検出手段によって検出される。しかして、玄米の表面は、薄い種皮で覆われていて、表面に肌摺れ(傷)のない状態では、直線に偏光された光は全体的に均一な屈折をし、偏光板4を通過し、均一な低い検出電圧値を得ることができるのに対して、玄米の表面の肌摺れ部分において、前記光が大きく変化して、多量の光量を検出し、高い検出電圧値となり、肌摺れのない玄米部分と肌摺れ部分とはきわだった検出差を示す。【効果】肌摺れのない玄米部分と肌摺れの玄米部分とはきわだった検出差を得ることができて、検出精度が向上する。
請求項（抜粋）：
発光手段1と、前記発光手段1から穀粒への入射光を直線に偏光する偏光手段2と、穀粒から受光手段への反射入射光のランダム偏光を除去する偏光手段4と、からなる穀粒の検出装置。
IPC (3件)：
G01N 21/85
, B02B 7/00
, G01N 33/10
G01N 21/85 A
, B02B 7/00 C
, G01N 33/10
