特許
J-GLOBAL ID：200903042035975306
高調波測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小森 久夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-273389
公開番号（公開出願番号）：特開平8-136595
出願日： 1994年11月08日
公開日（公表日）： 1996年05月31日
要約：
【要約】【目的】 時間的に変化する電力系統の高調波成分を連続的に監視し得るようにした高調波測定装置を提供する。【構成】 測定周期T毎に、被測定信号の基本周波数の1周期以上のサンプリング期間tについて複数点分のサンプリングを行い、これを基に高調波分析し、最新のサンプリング期間における高調波成分データとそれまでの平均高調波成分データとの加重平均によって新たな平均高調波成分データを順次求める。【効果】 高調波成分の時間的な変化が出力結果から容易に把握できるようになり、時間的に変化する電力系統の高調波成分を連続的に監視し得る。しかも、サンプリング期間tを一定としたまま、平均化の演算式を変えることなく、測定周期T毎に測定結果を更新していくことができるため、測定周期Tを任意に変更できるようになる。
請求項（抜粋）：
高調波成分の測定周期T毎に、被測定信号を該被測定信号の基本周波数の1周期以上のサンプリング期間t(t≦T)について複数点分のサンプリングを行って、サンプリングデータを求めるサンプリングデータ抽出手段と、前記各サンプリング期間におけるサンプリングデータから各次数の高調波成分データを求める高調波分析手段と、最新の前記サンプリング期間における高調波成分データと、それまでの平均高調波成分データとの加重平均をとり、新たな平均高調波成分データとして求める平均化手段と、この新たな平均高調波成分データを出力する手段とを設けたことを特徴とする高調波測定装置。
IPC (2件)：
引用特許：
前のページに戻る
