特許
J-GLOBAL ID:200903042150274893
マスク蒸着方法
発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-236628
公開番号(公開出願番号):特開2001-059155
出願日: 1999年08月24日
公開日(公表日): 2001年03月06日
要約:
【要約】【課題】 有機物やイオン化傾向の低い金属を蒸着源として蒸着する際、精度が良く、良質な薄膜パターンを作製できるマスク蒸着方法を提供する【解決手段】 基板7に蒸着パターンが形成されたマスク8を密着し、このマスク8側から蒸着を行って、基板7に薄膜パターンを形成するマスク蒸着方法において、マスク8は、ウエットエッチング液により微細なパターンが形成された単結晶Siからなる。
請求項(抜粋):
基板に蒸着パターンが形成されたマスクを密着し、このマスク側から蒸着を行って、前記基板に薄膜パターンを形成するマスク蒸着方法において、前記マスクは、ウエットエッチング液により微細なパターンが形成された単結晶Siからなることを特徴とするマスク蒸着方法。
IPC (4件):
C23C 14/04
, H01L 21/203
, H01L 21/285
, H01L 21/306
FI (4件):
C23C 14/04 A
, H01L 21/203 Z
, H01L 21/285 M
, H01L 21/306 B
Fターム (17件):
4K029BB03
, 4K029HA02
, 4M104DD34
, 4M104HH14
, 5F043AA02
, 5F043BB02
, 5F043DD07
, 5F043DD15
, 5F043DD30
, 5F043FF06
, 5F043GG10
, 5F103AA01
, 5F103DD25
, 5F103DD28
, 5F103LL20
, 5F103PP08
, 5F103RR10
前のページに戻る