光断層イメージング装置

発明者： , , , , , , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：伊藤進
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-367815
公開番号（公開出願番号）：特開2002-236090
出願日： 1992年11月18日
公開日（公表日）： 2002年08月23日
要約：

【要約】【課題】病変の浸潤度を容易に測定できる光断層イメージング装置を提供する。【解決手段】導光手段から出射される低干渉性光と、被検体の反射光とを透過する光透過端面を有し、低干渉性光の焦点位置が光透過端面の表面を観察する位置となるよう導光手段に対して位置決めされた先端光学部材を備え、導光手段で導光した反射光と低干渉性光から生成した基準光とを干渉させて、干渉した干渉光に対応する干渉信号を抽出し、前記干渉信号に対する信号処理を行うと共に、基準光側又は反射光側の光伝搬時間を変化させる光伝搬時間変化手段と、被検体側に対して前記低干渉性光を出射する位置を走査する光出射位置走査手段とにより、被検体の深さ方向を断層像を構築する。

請求項（抜粋）：

被検体に照射するための所定の低干渉性光を発生する低干渉性光発生手段と、前記低干渉性光発生手段により発生した低干渉性光を前記被検体に出射すると共に、前記低干渉性光に基づき前記被検体で反射した反射光を導光する導光手段と、前記導光手段から出射される低干渉性光と前記被検体で反射した反射光とを透過する光透過端面を有すると共に、前記低干渉性光の焦点位置が前記光透過端面の表面を観察する位置となるよう、前記導光手段に対して位置決めされた先端光学部材と、前記導光手段で導光した反射光と前記低干渉性光から生成した基準光とを干渉させて、干渉した干渉光に対応する干渉信号を抽出する干渉光抽出手段と、前記基準光側又は反射光側の光伝搬時間を変化させる光伝搬時間変化手段と、被検体側に対して前記低干渉性光を出射する位置を走査する光出射位置走査手段と、前記干渉信号に対する信号処理を行うと共に、前記光伝搬時間変化手段及び前記光出射位置走査手段により前記被検体の深さ方向を断層像を構築する信号処理手段と、を有することを特徴とする光断層イメージング装置。

IPC (3件)：

G01N 21/17 630 , A61B 10/00 , G01B 11/24

FI (3件)：

G01N 21/17 630 , A61B 10/00 E , G01B 11/24 D

Fターム (50件)：

2F065AA52 , 2F065BB05 , 2F065CC16 , 2F065FF52 , 2F065GG06 , 2F065GG12 , 2F065GG22 , 2F065HH09 , 2F065JJ01 , 2F065JJ18 , 2F065LL02 , 2F065LL04 , 2F065LL13 , 2F065LL33 , 2F065LL34 , 2F065LL62 , 2F065MM16 , 2F065SS13 , 2F065UU07 , 2G059AA06 , 2G059BB12 , 2G059BB14 , 2G059CC16 , 2G059EE02 , 2G059EE05 , 2G059EE09 , 2G059FF01 , 2G059FF02 , 2G059FF08 , 2G059GG02 , 2G059GG04 , 2G059GG06 , 2G059HH01 , 2G059HH06 , 2G059JJ07 , 2G059JJ11 , 2G059JJ13 , 2G059JJ15 , 2G059JJ17 , 2G059JJ18 , 2G059JJ19 , 2G059JJ22 , 2G059KK01 , 2G059KK04 , 2G059LL01 , 2G059LL02 , 2G059LL03 , 2G059MM01 , 2G059MM10 , 2G059PP04

引用特許：

審査官引用 (6件)

特開平4-309076
特開平4-135550
特開平4-135549

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