特許
J-GLOBAL ID:200903042300166148
膜形成用組成物、膜の形成方法および低密度化膜
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
白井 重隆
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-177702
公開番号(公開出願番号):特開2001-049184
出願日: 1999年06月24日
公開日(公表日): 2001年02月20日
要約:
【要約】 (修正有)【課題】 半導体素子などにおける層間絶縁膜として有用な、誘電率特性、吸水率特性に優れ、かつ空隙サイズが小さく、CMP耐性に優れた膜形成用組成物を提供する。【解決手段】 (A)R2 R3 Si(OR1 )2 、R2 Si(OR1 )3 およびSi(OR1 )4 の群から選ばれた少なくとも1種と、R2 s (R1 O)3-s SiRSi(OR1)3-t R2 t (R1 〜R3 は同一でも異なっていてもよく、それぞれ1価の有機基、Rは2価の有機基を示し、sおよびtは0〜1の整数である)、とを含有するシラン化合物、その加水分解物および/またはその縮合物、(B)一般式PEOp-PPOq-PEOr(ただし、PEOはポリエチレンオキサイド単位、PPOはポリプロピレンオキサイド単位、pは2〜200、qは20〜80、rは2〜200の数を示す)で表されるポリエーテル、ならびに溶媒、を含有する膜形成用組成物。
請求項(抜粋):
(A)(A-1)下記一般式(1)で表される化合物、(A-2)下記一般式(2)で表される化合物および(A-3)下記一般式(3)で表される化合物からなる群より選ばれる少なくとも1種と、(A-4)下記一般式(4)で表される化合物、とを含有するシラン化合物、その加水分解物および/またはその縮合物、(R1 〜R3 は同一でも異なっていてもよく、それぞれ1価の有機基、Rは2価の有機基を示し、sおよびtは0〜1の整数である。)(B)一般式PEOp-PPOq-PEOr(ただし、PEOはポリエチレンオキサイド単位、PPOはポリプロピレンオキサイド単位、pは2〜200、qは20〜80、rは2〜200の数を示す)で表されるポリエーテル、ならびに(C)アルコール系溶媒、ケトン系溶媒、アミド系溶媒およびエステル系溶媒の群から選ばれた少なくとも1種の溶媒を含有することを特徴とする膜形成用組成物。
IPC (5件):
C09D183/14
, C08L 71/02
, C08L 83/06
, C09D171/02
, H01L 21/312
FI (5件):
C09D183/14
, C08L 71/02
, C08L 83/06
, C09D171/02
, H01L 21/312 C
Fターム (31件):
4J002CH022
, 4J002CP031
, 4J002EC037
, 4J002EC047
, 4J002EE027
, 4J002EE047
, 4J002EH007
, 4J002EH037
, 4J002EH057
, 4J002EL067
, 4J002EP017
, 4J002EU027
, 4J002EU077
, 4J002EU237
, 4J002EX036
, 4J002GQ01
, 4J038DF022
, 4J038DL021
, 4J038DL031
, 4J038JC32
, 4J038KA06
, 4J038NA21
, 4J038PB09
, 5F058AA03
, 5F058AA04
, 5F058AA10
, 5F058AC03
, 5F058AF04
, 5F058AG01
, 5F058AH01
, 5F058AH02
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