特許

J-GLOBAL ID：200903042315327652

印字検査装置及び画像パターンフィルタ

発明者： 布目 勝 ,  後藤 仁
出願人/特許権者： 日立エンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 高崎 芳紘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-326363
公開番号（公開出願番号）：特開平7-181139
出願日： 1993年12月24日
公開日（公表日）： 1995年07月21日
要約：

【要約】【目的】 カンやビン類等への印字に際しての印字検査を自動的に行うと共に、文字欠け、文字はみ出しの抽出を行いこれらを統合して印字評価したい。【構成】 基準登録パターンと印字撮像した被検パターンとの差分パターンを求め、これを塊状成分抽出用フィルタ4に通して文字欠け部a、文字はみ出し部bを持つ残存パターンを得る。この残存パターンと登録パターンとのアンドをアンド回路6でとることで文字欠け部aを抽出する。残存パターンと被検パターンとのアンドをアンド回路7でとることで文字はみ出し部bを抽出する。更にa及びbの面積を求めると共に設定可変な重み比重W1、W2を乗算して総和を求める。これは加算回路9で行う。ここでS=W1S1+W2S2である。W1とW2とを適宜設定することでSの値が種々変化し、文字欠け、文字はみ出しの比重に応じたSを得る。

請求項（抜粋）：

基準登録パターンと印字文字からの被検パターンとの差分をとり差分パターンを求める手段と、差分パターンと前記基準登録パターンとのアンドをとる第1のアンド回路と、差分パターンと前記被検パターンとのアンドをとる第2のアンド回路と、第1のアンド回路出力を文字欠け部情報とし、第2のアンド回路出力を文字はみ出し部情報とする手段と、より成る印字検査装置。

IPC (3件)：

G01N 21/88 ,  G06T 7/00 ,  G06T 9/20

FI (3件)：

G06F 15/62 410 A ,  G06F 15/70 335 A ,  G06F 15/70 455 B