特許

J-GLOBAL ID：200903042323544433

光ディスクの検査方法および検査装置

発明者： 後藤 夏弘
出願人/特許権者： 株式会社リコー
代理人 (1件)： 紋田 誠
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-216755
公開番号（公開出願番号）：特開平8-063799
出願日： 1994年08月19日
公開日（公表日）： 1996年03月08日
要約：

【要約】【目的】 検査に要する時間を短縮でき、コストを低減できる光ディスクの検査方法および検査装置を提供することを目的としている。【効果】 複数の光ピックアップ装置により、複数の測定項目の検査を同時に行うことができるので、検査に必要な時間を短縮することができる。また、複数の光ピックアップ装置により、複数半径位置の測定動作を同時に行うことができるので、検査に必要な時間を短縮することができる。また、データ消去、データ記録、および、データ再生を異なる光ピックアップ装置で実行するので、データ記録状態の検査に要する時間を1/3に短縮することができる。

請求項（抜粋）：

円盤状に形成された光記録媒体の特性を検査する光ディスクの検査方法において、光ディスクの記録面の状態を検出するための複数の光ピックアップ装置を、おのおの光ディスクの異なる半径位置に固定的に配設し、上記複数の光ピックアップ装置のおのおのの検出信号に基づき、光ディスクの異なる半径位置について、同時に所定の特性を測定することを特徴とする光ディスクの検査方法。

IPC (4件)：

G11B 7/26 ,  G11B 11/10 581 ,  G11B 23/00 ,  G11B 25/04 101