特許

J-GLOBAL ID：200903042352367230

A/D変換器の試験方法及び半導体装置

発明者： 塚本 三六
出願人/特許権者： 富士通株式会社 ,  富士通ヴィエルエスアイ株式会社
代理人 (1件)： 恩田 博宣
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-199988
公開番号（公開出願番号）：特開平11-046140
出願日： 1997年07月25日
公開日（公表日）： 1999年02月16日
要約：

【要約】【課題】高速A/D変換器の動作試験を十分に行い得る試験方法及び半導体装置を提供する。【解決手段】A/D変換器5に供給するサンプリングクロック信号に基づいて、該サンプリングクロック信号CKに対し位相が連続的に変化する信号をアナログ信号Ainとして生成し、該アナログ信号Ainを前記サンプリングクロック信号CKに基づいてサンプリングしてA/D変換し、該A/D変換により生成されたデジタル信号を評価する。

請求項（抜粋）：

A/D変換器に供給するサンプリングクロック信号に基づいて、該サンプリングクロック信号に対し位相が連続的に変化する信号をアナログ信号として生成し、該アナログ信号を前記サンプリングクロック信号に基づいてサンプリングしてA/D変換し、該A/D変換により生成されたデジタル信号を評価することを特徴とするA/D変換器の試験方法。

IPC (3件)：

H03M 1/10 ,  G01R 31/00 ,  G01R 31/316

FI (3件)：

H03M 1/10 C ,  G01R 31/00 ,  G01R 31/28 C