特許
J-GLOBAL ID：200903042417331417
3次元形状測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
足立 勉
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-050566
公開番号（公開出願番号）：特開平10-246612
出願日： 1997年03月05日
公開日（公表日）： 1998年09月14日
要約：
【要約】【課題】不連続段差や相互に接続点をもたない被測定物を、瞬時に測定でき、振動や空気の微小ゆらぎなどの影響を受けにくい3次元形状測定方法を得る。【解決手段】周期と向きとが互いに異なる複数の1次元格子を重畳させた2次元格子パターンを被測定物6a,6b,7に投影し、被測定物6a,6b,7の3次元形状に応じて変形した2次元格子像10を撮像し、2次元格子像10から各1次元格子成分毎に位相を検出し、各位相に基づいて3次元形状の測定値を得る。
請求項（抜粋）：
3次元形状の被測定物に格子パターンを投影し、この格子像から前記被測定物の3次元形状の測定値を得る3次元形状測定方法において、周期と向きとが互いに異なる複数の1次元格子を重畳させた2次元格子パターンを前記被測定物に投影し、前記被測定物の3次元形状に応じて変形した2次元格子像を撮像し、該2次元格子像から前記各1次元格子成分毎に位相を検出し、該各位相に基づいて前記測定値を得ることを特徴とする3次元形状測定方法。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01B 11/24 A
, G01B 11/24 K
, G06F 15/62 415
