特許

J-GLOBAL ID：200903042440940340

実装基板の検査装置

発明者： 清水 富夫
出願人/特許権者： 富士写真フイルム株式会社
代理人 (1件)： 光石 俊郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-264439
公開番号（公開出願番号）：特開平6-118137
出願日： 1992年10月02日
公開日（公表日）： 1994年04月28日
要約：

【要約】【目的】 基準孔と検査点との位置ズレがあっても、実装基板の固定位置を変えることにより、正確な検査を実行する。【構成】 下フィクスチャー20の下面には、調整器30,40が固定されるとともに、基板位置決めピン51を有する移動ボード50が移動自在に取り付けられる。送りねじ33,43を回すことにより移動ボード50の位置が変わり、下フィクスチャー20のピン孔21から上方に突出している基板位置決めピン51の位置調整ができる。

請求項（抜粋）：

電子素子が実装され且つ基準孔が形成された実装基板の前記基準孔に、基板位置決めピンが嵌入して前記実装基板の位置決めをするとともに、コンタクトピンを有するフィクスチャーを用いて前記実装基板を挾み、コンタクトピンの先端を実装基板の検査点に接触させた状態で前記実装基板の電気的特性を検査する検査装置において、前記基板位置決めピンを有し、実装基板の基板面に対し平行な面内で移動可能なようにフィクスチャーに取り付けられた移動ボードと、前記移動ボードを移動させる調整器と、を有することを特徴とする実装基板の検査装置。