特許

J-GLOBAL ID：200903042454711866

排気ガス分析装置

発明者： 大塚紀一郎 ,  国広文夫 ,  田中一夫 ,  久保田英次 ,  樋口哲夫 ,  上田祥久
出願人/特許権者： 日本電子株式会社 ,  日本電子ライオソニック株式会社
代理人 (1件)： 青木 健二 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-089593
公開番号（公開出願番号）：特開2002-286703
出願日： 2001年03月27日
公開日（公表日）： 2002年10月03日
要約：

【要約】【課題】従来の排気ガス分析装置が有している諸問題を効果的に解決することができる排気ガス分析装置を提供する。【解決手段】煙道1の排気ガスがバイパス煙道2、試料導入管6を通してダストフィルター14および試料トラップ16に導入される。このとき、排気ガスの流路にある各構成要素が120°C程度に加熱される。流量が既定値に満たない場合は、他のダストフィルター14および試料トラップ16に切り替える。これを加熱し、ダスト付着のダイオキシン類を脱離する。このダイオキシン類は第1クライオフォーカス19にトラップされる。再び、内部標準試料液を導入し、これらを急速加熱してダイオキシン類を分離する。分離したダイオキシン類が所定量第2クライオフォーカス23にトラップされ、再び加熱されて再びダイオキシン類を分離する。このダイオキシン類がMS25に導入されて分析される。

請求項（抜粋）：

煙道の排気ガスを導入する試料導入管と、この試料導入管からの排気ガスのうち、被測定試料をトラップする試料トラップと、この試料トラップを加熱する試料トラップオーブンと、第1クライオフォーカスを備え、前記試料トラップからの被測定試料をトラップする第1ガスクロマトグラムと、第2クライオフォーカスを備え、前記第1ガスクロマトグラムからの被測定試料をトラップする第2ガスクロマトグラムと、前記第1ガスクロマトグラムから前記第2ガスクロマトグラムへの被測定試料の導入量を制御する流量制御手段と、前記第2ガスクロマトグラムからの被測定試料を測定する質量分析部とを少なくとも備えていることを特徴とする排気ガス分析装置。

IPC (7件)：

G01N 30/08 ,  G01N 27/62 ,  G01N 30/04 ,  G01N 30/14 ,  G01N 30/72 ,  G01N 30/88 ,  G01N 33/00

FI (7件)：

G01N 30/08 G ,  G01N 27/62 C ,  G01N 30/04 P ,  G01N 30/14 Z ,  G01N 30/72 A ,  G01N 30/88 C ,  G01N 33/00 C