特許
J-GLOBAL ID：200903042488224859
光電変換素子周波数特性測定方法及び光電変換素子応答特性測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小池 龍太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-214698
公開番号（公開出願番号）：特開平5-034238
出願日： 1991年07月31日
公開日（公表日）： 1993年02月09日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】 発光現象に伴って生じる雑音に着目し、時間的にインコヒ-レントでパワ-スペクトル密度の周波数特性が既知である光出力を発する光源を用いて、光電変換素子の周波数特性を高確度に実時間測定する。【構成】 光源1から発っせられた時間的にインコヒ-レントで、かつ、パワ-スペクトル密度の周波数特性が既知な光出力を、被測定用光電変換素子Aで受光して、この信号に含まれる周波数成分値を電気信号周波数検出部2で検出し、その検出した出力信号値を、前記既知であるパワ-スペクトル密度の周波数特性を基準に補正し、この補正値を該被測定用光電変換素子の応答特性として信号演算出力部3から出力するようにしたことを特徴とする。
請求項（抜粋）：
被測定光電変換素子の周波数帯域をカバーし、時間的にインコヒーレントで、かつ、パワースペクトル密度の周波数特性が既知である光出力を発する光源を用意し、該光源からの光を被測定光電変換素子の受光面に入力させ、このときの被測定光電変換素子の光・電流変換出力の周波数スペクトルの時間平均値を求めて被測定光電変換素子の周波数特性とする光電変換素子周波数特性測定方法。
IPC (2件)：
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