特許
J-GLOBAL ID：200903042490361588
位相コントラストイメージング用のX線干渉計
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
江崎 光史
, 奥村 義道
, 鍛冶澤 實
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-518744
公開番号（公開出願番号）：特表2009-543080
出願日： 2007年06月28日
公開日（公表日）： 2009年12月03日
要約：
本発明は、a)X線源、好ましくは標準的多色X線源と、b)好ましくは透過ジオメトリーで、ブラッグ結晶以外の回折ビームスプリッター格子と、c)いくつかの個別ピクセルを有する空間変調検出感度を備えた位置感知型検出器と、d)検出器の画像を位相ステッピング法で記録するための手段と、e)個別ピクセルごとに吸収優位のピクセルおよび/または微分位相コントラスト優位のピクセルおよび/またはX線散乱優位のピクセルとして被写体の特徴を同定するためにピクセルごとに一連の画像の強度を評価するための手段と、を含む、被写体から定量X線画像を得るためのX線用、特に硬X線用の干渉計に関する。
請求項（抜粋）：
a)X線源(X線)、好ましくは標準的多色X線源と、
b)好ましくは透過ジオメトリーで、ブラッグ結晶以外の回折ビームスプリッター格子(G1)と、
c)いくつかの個別ピクセルを有する空間変調検出感度を備えた位置感知型検出器(D)と、
d)前記検出器(D)の画像を位相ステッピング法で記録するための手段(μC)と、
e)個別ピクセルごとに吸収優位のピクセルおよび/または微分位相コントラスト優位のピクセルおよび/またはX線散乱優位のピクセルとして被写体の特徴を同定するためにピクセルごとに一連の画像の強度を評価するための手段(μC)と、
を含む、被写体(O)から定量X線画像を得るためのX線用、特に硬X線用の干渉計(2)。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (17件)：
2G001AA01
, 2G001BA14
, 2G001BA28
, 2G001DA01
, 2G001DA08
, 2G001DA09
, 2G001GA06
, 2G001GA08
, 2G001HA07
, 2G001JA05
, 2G001JA07
, 2G001JA13
, 2G001KA01
, 2G001KA03
, 2G001LA01
, 2G001PA13
, 2G001PA14
