特許
J-GLOBAL ID：200903042516729325
積層セラミックコンデンサの内部クラック検出方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西澤 均
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-340806
公開番号（公開出願番号）：特開平7-161570
出願日： 1993年12月09日
公開日（公表日）： 1995年06月23日
要約：
【要約】【目的】 積層セラミックコンデンサの内部クラックを、積層セラミックコンデンサを破壊することなく、容易かつ確実に、しかも速やかに検出することを可能にする。【構成】 形成される静電容量と誘電損失の少なくとも一方を測定し、同様の方法で測定した内部クラックのない積層セラミックコンデンサと比較することにより内部クラックの有無を検出する。
請求項（抜粋）：
セラミック層と内部電極が積層された構造を有する積層セラミックコンデンサの内部クラックを検出する方法において、形成される静電容量と誘電損失の少なくとも一方を測定し、同様の方法で測定した内部クラックのない積層セラミックコンデンサの静電容量及び誘電損失と比較することにより内部クラックの有無を検出することを特徴とする積層セラミックコンデンサの内部クラック検出方法。
IPC (3件)：
H01G 4/12 364
, H01G 13/00 361
, G01R 27/26
