特許

J-GLOBAL ID：200903042562668020

ATM交換機の試験システム

発明者： 山田 信二 ,  櫻井 大和 ,  前川 祐史
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 井島 藤治 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-015181
公開番号（公開出願番号）：特開平9-214498
出願日： 1996年01月31日
公開日（公表日）： 1997年08月15日
要約：

【要約】【課題】 本発明はATM交換機の試験システムに関し、第1にハードウェアパッケージが装着された際、システムにてハードウェアの種類を認識し、その種類に応じた品質検証を自動的に実施することができるATM交換機の試験システムを提供することを目的としている。【解決手段】 ATM交換機と、保守コンソールと、試験装置よりなるATM交換機システムにおいて、前記ATM交換機内に、通話路系装置のパッケージを装着した時に、該パッケージより発信される信号から、パッケージが装着されたことを検出し、そのパッケージの種類を特定するパッケージ試験制御部を設けて構成する。

請求項（抜粋）：

ATM交換機と、保守コンソールと、試験装置よりなるATM交換機システムにおいて、前記ATM交換機内に、通話路系装置のパッケージを装着した時に、該パッケージより発信される信号から、パッケージが装着されたことを検出し、そのパッケージの種類を特定するパッケージ試験制御部を設けたことを特徴とするATM交換機の試験システム。

IPC (3件)：

H04L 12/28 ,  H04L 12/26 ,  H04Q 3/00

FI (3件)：

H04L 11/20 D ,  H04Q 3/00 ,  H04L 11/12