特許
J-GLOBAL ID：200903042567934985
光フアイバに沿つた物理量分布の検知方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松本 孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-194040
公開番号（公開出願番号）：特開平5-034212
出願日： 1991年08月02日
公開日（公表日）： 1993年02月09日
要約：
【要約】【目的】放射線環境下でも、伝送損失変化の差の影響を受けることなく、温度分布を正しく測定する。【構成】(n-1)番目のサンプリング点とn番目のサンプリング点の間のストークス、アンチストークス光の伝送損失をa1 (n)、a2 (n)とすると、後方散乱光発生確率はR1 (n)=J(G1(n)、a1 (n))、R2 (n)=J(G2 (n)、a2 (n))で表わせる。放射線環境下では伝送損失a1 (n)と、a2 (n)との間に関係式a2 (n)=A×a1 (n)+Bが成立するためR2 (n)からa2 (n)を消去できる。すると、R1 (n)とR2(n)とからa1 (n)が求められ、関係式からa2 (n)も求まる。T(n)=F(a1 (n)、a2 (n)、G1 (n)、G2 (n))が成立つ。G1 (n)、G2 (n)は後方散乱光強度の時間関数g1 (t)、g2 (t)から求まる。要素を代入するとT(n)、しいては距離温度T(x)が求まる。
請求項（抜粋）：
光ファイバ中で発生する少なくとも2種類の散乱光を測定することにより、該光ファイバに沿った物理量の分布を検知する方法において、第1の散乱光の光ファイバ中の伝送損失α1 と第2の散乱光の光ファイバ中の伝送損失α2 との間の関係式α2 =f(α1 )と、第1の散乱光の波長について測定した光ファイバからの後方散乱光強度の時間関数g1 (t)と、第2の散乱光の波長について測定した光ファイバからの後方散乱光強度の時間関数g2 (t)とを用いて光ファイバに沿った物理量分布h(x)を求めることを特徴とする光ファイバに沿った物理量分布の検知方法。
IPC (2件)：
引用特許：
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