特許
J-GLOBAL ID：200903042674437250
光計測装置および光学的計測方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-204153
公開番号（公開出願番号）：特開平5-005698
出願日： 1991年08月14日
公開日（公表日）： 1993年01月14日
要約：
【要約】【目的】本発明の目的は、光源のもつ量子雑音を抑制できる光計測装置を提供することにある。【構成】本発明の要旨は、光源と、前記光源から放射される一つの光子を第一の光子と第二の光子よりなる光子対に変換するための第一の手段と、前記光子対の光路を前記第一の光子が通過し、かつ、その光路中に被測定試料を挿入するための第一の光路と前記第二の光子が通過する第二の光路とに分離するための第二の手段と、前記第一の光路上に設けられ、その光の強度を検出するための第三の手段と、前記第二の光路上に設けられ、その光の強度を検出するための第四の手段と、前記第三の手段および第四の手段の各々の出力値に基づいて前記光源の持つ量子雑音を相殺するための第五の手段と、前記第五の手段の出力値に基づいて前記被測定試料の光学的特性を測定するための第六の手段とを有することを特徴とする光計測装置にある。【効果】本発明によれば、極めて低雑音の光計測装置が可能になり、極めて微量の物質の同程や、微弱な光学的性質の変化の測定が可能になる。
請求項（抜粋）：
光源と、前記光源から放射される一つの光子を第一の光子と第二の光子よりなる光子対に変換するための第一の手段と、前記光子対の光路を前記第一の光子が通過し、かつ、その光路中に被測定試料を挿入するための第一の光路と前記第二の光子が通過する第二の光路とに分離するための第二の手段と、前記第一の光路上に設けられ、その光の強度を検出するための第三の手段と、前記第二の光路上に設けられ、その光の強度を検出するための第四の手段と、前記第三の手段および第四の手段の各々の出力値に基づいて前記光源の持つ量子雑音を相殺するための第五の手段と、前記第五の手段の出力値に基づいて前記被測定試料の光学的特性を測定するための第六の手段とを有することを特徴とする光計測装置。
IPC (3件)：
G01N 21/01
, G01J 3/42
, G01N 21/65
