特許
J-GLOBAL ID：200903042680849048
材料の劣化計測方法及び装置
発明者：
出願人/特許権者：
,
代理人 (1件)：
澤木 誠一 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-027163
公開番号（公開出願番号）：特開平6-222021
出願日： 1993年01月25日
公開日（公表日）： 1994年08月12日
要約：
【要約】【目的】 本発明の目的は、導電性材料の劣化を容易に計測できる計測方法及び装置を得るにある。【構成】 検知導体を被測定材料に沿って所定の長さに亘り線状に配置し、この検知導体に交流電流を流し、この結果上記材料に発生する誘導電流によって生ずる2点間の電圧を検出し、この電圧変化から上記2点間にき裂があるものと判定する、材料の劣化計測方法及び装置。上記検知導体には種々の周波数の交流電流が流される。上記検知導体を支持するボデー部分がフレキシブルであり、上記材料の面に沿って変形可能である。
請求項（抜粋）：
検知導体を被測定導電性材料に沿って線状に配置し、この検知導体に交流電流を流し、上記検知導体に沿った上記材料の複数点間の電圧を検出し、この検出した電圧から上記材料の劣化を判断することを特徴とする材料の劣化計測方法。
IPC (2件)：
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