特許
J-GLOBAL ID：200903042699746509
赤外顕微鏡
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-329740
公開番号（公開出願番号）：特開平7-151678
出願日： 1993年11月30日
公開日（公表日）： 1995年06月16日
要約：
【要約】【目的】 着目物質以外の物質の影響を極力排除して、高精度の2次元分析マッピング(又は線分析)を行なえるようにする。【構成】 各点(x,y)において測定した試料の吸光度スペクトルA(ν)と着目物質の物質吸光度スペクトルパターンF(ν)とを、波数又は波長毎に乗算し、積分する。
請求項（抜粋）：
a)各種既知物質の赤外線の波数又は波長毎の吸収度を表わす物質吸光度スペクトルパターンを記憶する物質吸光度スペクトルパターン記憶手段と、b)試料で吸収を受けた赤外線の波数又は波長毎の吸収度を表わす測定吸光度スペクトルを検出する測定吸光度スペクトル検出手段と、c)測定吸光度スペクトルと着目物質の物質吸光度スペクトルパターンとを波数又は波長毎に乗算し、積分することにより、積分吸光度を算出する手段とを備えることを特徴とする赤外顕微鏡。
IPC (2件)：
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