特許
J-GLOBAL ID：200903042760635308
フラットディスプレイの表示検査方法およびその検査 装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山口 巖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-017754
公開番号（公開出願番号）：特開平6-230744
出願日： 1993年02月05日
公開日（公表日）： 1994年08月19日
要約：
【要約】【目的】欠陥画素,電極パタ-ンショ-ト等の表示欠陥の検査を大掛かりな検査装置を用いずに精度よく迅速に行える表示検査方法,検査装置を得る。【構成】表示面2にメッシュ状に配列された画素31の発光を制御することにより情報を表示するフラットディスプレイ1の欠陥画素の検査方法であって、表示面2の水平方向に画素一列を発光させ、この発光画素列30a等を順次平行移動させるとともに、発光画素列中の各画素の発光をリニアイメ-ジセンサ33および走査機構部36によってジグザグ状に走査して検出し、その出力ビデオ信号33Sを画像処理部34で整形し、その大きさをHレベルおよびLレベルに2値化することによりLレベルとなる欠陥画素を検出する。
請求項（抜粋）：
表示面にメッシュ状に配列された画素の発光を制御することにより情報を表示するフラットディスプレイの欠陥画素の検査方法であって、表示面の水平方向に画素一列を発光させ、この発光画素列を順次平行移動させるとともに、各発光画素列中の画素の発光をリニアイメ-ジセンサでジグザグ状に走査して検出し、その出力ビデオ信号を整形してその大きさをHレベルおよびLレベルに2値化することによりLレベルとなる欠陥画素を検出することを特徴とするフラットディスプレイの表示検査方法。
IPC (2件)：
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