特許

J-GLOBAL ID：200903042773981205

電子顕微鏡の試料装置

発明者： 成瀬 幹夫
出願人/特許権者： 日本電子株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-147692
公開番号（公開出願番号）：特開平8-017381
出願日： 1994年06月29日
公開日（公表日）： 1996年01月19日
要約：

【要約】【目的】 試料を簡単に交換できる電子顕微鏡の試料装置を提供する。【構成】 試料ホルダに装着されるカートリッジ本体を有し、カートリッジ本体の先端部にメッシュ状部が形成されている。ミクロトームでスライスされた試料等はカートリッジ本体の先端部にあるメッシュ状部で掬い上げられることにより、メッシュ状部に載置される。そのため、工具等を用いることなく、簡単に試料をカートリッジにマウントして試料を交換することができる。

請求項（抜粋）：

試料ホルダと、該試料ホルダに脱着自在に装着されるカートリッジ本体と、該カートリッジ本体の先端に形成されたメッシュ状部を備えた電子顕微鏡の試料装置。