特許
J-GLOBAL ID:200903042774568450

粒径分布測定装置並びにこの装置に用いるアレイ検出器およびその製作方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 藤本 英夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-327465
公開番号(公開出願番号):特開2000-214068
出願日: 1999年11月17日
公開日(公表日): 2000年08月04日
要約:
【要約】【課題】 アレイ検出器部分の構成をコンパクトにした粒径分布測定装置を提供すること。【解決手段】 レーザ光源5からのレーザ光4を分散した粒子群に照射したときに生ずる散乱光の強度を各散乱角ごとに検出する複数の散乱光検出素子を有するアレイ検出器21を備え、各散乱光検出素子からの散乱光強度信号に基づいて前記粒子群における粒径分布を測定するようにした装置において、前記アレイ検出器21として、一つの検出平面に光軸を中心にして一つの半径方向に設けられる複数の散乱光検出素子24a〜24nを、それらの扇形角が一定になるようにするのではなく、予め設定された幅内において最大の扇形角が得られるように形成されてなるものを用いた。
請求項(抜粋):
レーザ光源からのレーザ光を分散した粒子群に照射したときに生ずる散乱光の強度を各散乱角ごとに検出する複数の散乱光検出素子を有するアレイ検出器を備え、各散乱光検出素子からの散乱光強度信号に基づいて前記粒子群における粒径分布を測定するようにした装置において、前記アレイ検出器として、一つの検出平面に光軸を中心にして一つの半径方向に設けられる複数の散乱光検出素子を、それらの扇形角が一定になるようにするのではなく、予め設定された幅内において最大の扇形角が得られるように形成されてなるものを用いたことを特徴とする粒径分布測定装置。
引用特許:
審査官引用 (3件)
  • 特開平2-173551
  • 粒度分布測定装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平3-342680   出願人:株式会社島津製作所
  • 特開平2-193041

前のページに戻る