特許

J-GLOBAL ID：200903042809255182

パターンレイアウト方法、その装置およびパターンレイアウトプログラムを記憶した媒体

発明者： 大井 亮
出願人/特許権者： 株式会社東芝 ,  東芝電子エンジニアリング株式会社
代理人 (2件)： 樺澤 襄 ,  樺澤 聡
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-165983
公開番号（公開出願番号）：特開2004-014798
出願日： 2002年06月06日
公開日（公表日）： 2004年01月15日
要約：

【課題】選択された端子を効率的に等抵抗で接続するパターンレイアウト方法を提供する。【解決手段】各配線パターンの抵抗値の決定に大きく寄与する単位長さあたりの抵抗値が最も高い一方の第2の導電体パターンの配線長を等しくし、各配線パターンの抵抗値を等しくする。各配線パターンに形成するコンタクトホールの数を等しくすることにより、各配線パターンのコンタクトホールの合計の抵抗値を等しくする。抵抗値の高い第2の導電体パターンの引き回し長さによる抵抗値とコンタクトホールの抵抗値が支配的になるためこれらを等しくすることにより、従来に比べて短時間に各配線パターンの配線抵抗値が略等しいアレイパターンの設計ができる。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

複数層の導電体パターン間をコンタクトホールで電気的に接続した複数の配線パターンを認識し、 これら配線パターンのそれぞれのコンタクトホールの数を抽出し、 抽出されたコンタクトホールの数が複数の配線パターンで異なるか否かを判断し、 抽出されたコンタクトホールの数が複数の配線パターンで異なる場合には、コンタクトホールの数を等しくして配線パターンを描画する ことを特徴とするパターンレイアウト方法。

IPC (5件)：

H01L21/82 ,  G02F1/1345 ,  G06F17/50 ,  H01L21/822 ,  H01L27/04

FI (7件)：

H01L21/82 W ,  G02F1/1345 ,  G06F17/50 658J ,  G06F17/50 658K ,  G06F17/50 658U ,  H01L21/82 C ,  H01L27/04 D

Fターム (21件)：

2H092GA24 ,  2H092GA27 ,  2H092GA28 ,  2H092GA32 ,  2H092GA59 ,  2H092JA24 ,  2H092JB21 ,  2H092MA01 ,  2H092NA25 ,  5B046AA07 ,  5B046BA06 ,  5F038CD05 ,  5F038CD12 ,  5F038EZ09 ,  5F038EZ20 ,  5F064EE08 ,  5F064EE22 ,  5F064EE27 ,  5F064EE42 ,  5F064EE47 ,  5F064HH06