特許
J-GLOBAL ID:200903042812076531

試験を実施するための方法及び装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 川口 義雄 (外2名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-567948
公開番号(公開出願番号):特表2002-523779
出願日: 1999年07月22日
公開日(公表日): 2002年07月30日
要約:
【要約】自動試料分析のための方法及び装置(10)。前記装置は複数のコンパートメント(13,22,26,28,30,32)及び入口ポート(12)につながる通路(16)を有し、コンパートメント(13)及びポータル(24,34,36,38,40)は相互に連結している。
請求項(抜粋):
試料受容コンパートメント及び信号検出コンパートメントを含めた複数のコンパートメントを有し、その少なくとも1つのコンパートメントに試薬を収容してなる容器を用意し、 試料を試料受容コンパートメントに受容し、 前記容器の表面を複数のアクチュエータを有するデバイスと接触させ、 試料の少なくとも一部を複数のアクチュエータを用いて試料受容コンパートメントから試料検出コンパートメントに移動させ、 試料を試薬と反応させて、アナライトの存在に応じて信号を発生させることを含むことを特徴とする試料をアナライトについて試験する方法。
IPC (3件):
G01N 33/543 ,  G01N 33/53 ,  G01N 33/531
FI (3件):
G01N 33/543 ,  G01N 33/53 T ,  G01N 33/531
引用特許:
出願人引用 (2件)

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