特許
J-GLOBAL ID:200903042824293996

スイッチ接点腐食除去装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 伊東 忠彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-210045
公開番号(公開出願番号):特開2007-026992
出願日: 2005年07月20日
公開日(公表日): 2007年02月01日
要約:
【課題】 本発明はスイッチ接点に発生した腐食を常時より過大な電流を流すことにより除去するスイッチ接点腐食除去装置に関し、電力損失の低減及び製品コストの削減を図ることを課題とする。【解決手段】 ストップランプSW12の接点に発生する腐食を過大な腐食除去電流IEXを流すことにより除去するスイッチ接点腐食除去装置において、CPU10に設けられたソークタイマ値より、ストップランプSW12に腐食が発生したことが推測される場合、ストップランプSW12に対して腐食除去電流IEXを供給するよう構成する。 【選択図】 図1
請求項(抜粋):
スイッチの接点に発生する腐食を常時より過大な腐食除去電流を流すことにより除去するスイッチ接点腐食除去装置において、 前記スイッチに腐食が発生したことを推測或いは検出した際、前記スイッチに対して前記腐食除去電流を供給する腐食除去手段を設けたことを特徴とするスイッチ接点腐食除去装置。
IPC (3件):
H01H 1/60 ,  H01H 1/00 ,  H01H 9/54
FI (3件):
H01H1/60 ,  H01H1/00 D ,  H01H9/54 A
Fターム (3件):
5G034AA14 ,  5G051MB06 ,  5G051QA07
引用特許:
出願人引用 (1件)

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