特許
J-GLOBAL ID:200903042836350766
液晶表示装置の検査方法および液晶表示装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
森本 義弘
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-177914
公開番号(公開出願番号):特開2000-010063
出願日: 1998年06月25日
公開日(公表日): 2000年01月14日
要約:
【要約】【課題】 大型もしくは画素数が多く高精細な液晶表示装置に対しても、画面の表示不良を防止できる液晶表示装置の検査方法を提供する。【解決手段】 表示画面Aを複数の表示画面領域A1、A2、...An、...Amに分割し、各表示画面領域A1、A2、...An、...Am毎に、ソース配線に接続された画素電極の色が同一であるソース配線が全て接続された3本のソース用検査配線S1,S2,S3と、ゲート配線が1本毎に交互に接続された2本のゲート用検査配線G1,G2と、対向電極に接続された1本の対向電極用検査配線Cとの、合計6本の検査配線18をそれぞれ用意して検査する。これにより、検査配線18の配線抵抗および検査配線18に負荷する負荷容量を小さくできて時定数を小さくすることができて画面の表示不良を防止できる。
請求項(抜粋):
赤色・緑色・青色を表示させる多数の画素電極が配置され、画素電極がスイッチング素子を介してソース配線に電気的に接続されてなるアクティブマトリクス方式の液晶表示装置を検査するに際し、表示画面を複数の表示画面領域に分割し、各表示画面領域毎に、ソース配線に接続された画素電極の色が同一であるソース配線が全て接続された3本のソース用検査配線と、ゲート配線が1本毎に交互に接続された2本のゲート用検査配線と、対向電極に接続された1本の対向電極用検査配線との、合計6本の検査配線をそれぞれ用意して検査し、検査後に、ソース用検査配線と前記ソース配線との接続、ゲート用検査配線と前記ゲート配線との接続、対向電極用検査配線と前記対向電極との接続、のうちの液晶表示装置の通常動作に必要でない電気接続をオープンにする液晶表示装置の検査方法。
IPC (3件):
G02F 1/13 101
, G01M 11/00
, G02F 1/136 500
FI (3件):
G02F 1/13 101
, G01M 11/00 Z
, G02F 1/136 500
Fターム (8件):
2H088FA12
, 2H088FA13
, 2H088HA08
, 2H088MA20
, 2H092GA22
, 2H092JA24
, 2H092MA56
, 2H092NA30
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