特許
J-GLOBAL ID：200903042899262484
磁気特性分析装置及び分析方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中村 純之助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-265968
公開番号（公開出願番号）：特開平7-120544
出願日： 1993年10月25日
公開日（公表日）： 1995年05月12日
要約：
【要約】【目的】核磁気共鳴現象を応用した異方性磁界の測定において、測定分解能を顕著に向上させることのできる磁気特性分析装置及び分析方法を提供すること。【構成】上記目的は、試料コイル内に装着した磁性体試料に対して高周波パルス磁界を印加することによって原子核スピンの磁気共鳴信号を観測する核磁気共鳴分析装置において、上記試料コイルが2本以上の絶縁被覆線をパラレルに巻いた密巻単層ソレノイドコイルによって構成されていることを特徴とする磁気特性分析装置とすること、及び、本発明の分析方法とすることによって達成することができる。
請求項（抜粋）：
試料コイル内に装着した磁性体試料に対して高周波パルス磁界を印加することによって原子核スピンの磁気共鳴信号を観測する核磁気共鳴分析装置において、上記試料コイルが2本以上の絶縁被覆線をパラレルに巻いた密巻単層ソレノイドコイルによって構成されていることを特徴とする磁気特性分析装置。
IPC (4件)：
G01R 33/34
, G01R 33/32
, G01R 33/12
, G01R 33/20
G01N 24/04 520 A
, G01N 24/02 530 Z
