断層再構成方法と断層撮影装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：杉谷勉
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-229317
公開番号（公開出願番号）：特開2003-038480
出願日： 2001年07月30日
公開日（公表日）： 2003年02月12日
要約：

【要約】【課題】断層再構成計算を高速化できる断層再構成方法と断層撮影装置を提供する。【解決手段】被検体を挟んでX線管(X線焦点f)とX線検出器42とが同期されて走査され、走査各位置で検出された撮影データまたはそれをフィルター処理したデータを逆投影データとして、被検体の関心領域に仮想的に設定される2次元または3次元の断層再構成領域Bに逆投影する断層再構成方法において、前記逆投影データを補間により拡大した拡大補間データを生成してから、この拡大補間データを断層再構成領域Bに逆投影するので、逆投影データを補間により拡大する分だけの補間計算回数に低減でき、断層再構成計算時間を短縮できる。

請求項（抜粋）：

被検体に対して透過性を有する電磁波を被検体に照射する照射源と、被検体を透過した電磁波を検出する検出器とが被検体を挟んで配置され、照射源と検出器が同期して被検体を走査するか、又は、被検体の回転に同期して走査することによって得られる走査各位置で検出された撮影データまたはそれをフィルター処理したデータを逆投影データとして、被検体の関心領域に仮想的に設定される2次元または3次元の断層再構成領域に逆投影する断層再構成方法において、前記逆投影データを補間により拡大した拡大補間データを生成してから、この拡大補間データを前記断層再構成領域に逆投影するように実行させることを特徴とする断層再構成方法。

IPC (4件)：

A61B 6/03 350 , G01N 23/04 , G06T 1/00 290 , G06T 3/40

FI (4件)：

A61B 6/03 350 R , G01N 23/04 , G06T 1/00 290 B , G06T 3/40 C

Fターム (26件)：

2G001AA01 , 2G001BA11 , 2G001CA01 , 2G001DA07 , 2G001HA01 , 2G001HA07 , 2G001HA13 , 2G001HA14 , 2G001HA20 , 2G001JA01 , 2G001JA06 , 2G001KA03 , 2G001LA01 , 4C093AA21 , 4C093BA03 , 4C093CA28 , 4C093FE14 , 4C093FE22 , 5B057AA09 , 5B057BA03 , 5B057CA13 , 5B057CA16 , 5B057CB13 , 5B057CB16 , 5B057CC02 , 5B057CD06

引用特許：

出願人引用 (1件)

特開昭63-049143

審査官引用 (2件)

特開昭63-049143
特開昭63-049143

前のページに戻る