特許

J-GLOBAL ID：200903043006508339

無振動交流式非接触表面電位計

発明者： 野崎 年功
出願人/特許権者： ジェンテック株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-044625
公開番号（公開出願番号）：特開平7-218567
出願日： 1994年02月07日
公開日（公表日）： 1995年08月18日
要約：

【要約】【目的】交流式の非接触表面電位測定計において、機械的振動を使わずに被測定面の表面電位を測定出来るプローブを製作する事で機械的振動を使わない表面電位計が製作出来る。【構成】被測定物に対向して貫通した検出孔を持つ導電性ケースに被測定物からの電気力線を検出するための基準電極と、その後ろに容量結合された検出電極を固定して設置したプローブにおいて、電気的に基準電極を導電性ケースと検出電極に連続的且つ、交互に切り換えることで被測定物の表面電位に比例した交流電圧を検出し、増幅器や同期検波の信号処理回路を経てを電圧計もしくは電流計に被測定物の表面電位として表示する。

請求項（抜粋）：

検出電極の前面に基準電極を固定し容量結合をさせ、対向する被測定面からの電気力線が基準電極に達するように構成された表面電位プローブに於て基準電極を周期的且つ交互に検出電極と接地電位に接続する切り換え回路を設ける事により表面電位プローブに入力される電気力線を交流化する事によって、被測定面の表面電位を測定する非接触型表面電位計。