特許

J-GLOBAL ID：200903043021417080

アレイ超音波探傷法及びその装置

発明者： 増田 智紀 ,  伊藤 一博
出願人/特許権者： 東京瓦斯株式会社
代理人 (1件)： 大橋 弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-066151
公開番号（公開出願番号）：特開平9-257763
出願日： 1996年03月22日
公開日（公表日）： 1997年10月03日
要約：

【要約】【目的】 アレイ超音波探傷法において、反射体の寸法を正確に測定する。【解決手段】 アレイ探触子1を素子2...の配列方向に走査しつつ受信感度分布計算器5で受信感度分布を計算すると共にピーク検出器6で分布のピークを検出し、前記ピークが送信素子群の中心から一定の距離に収まる最大走査量を求めてこの値から反射体(きず)の寸法を評価する。

請求項（抜粋）：

アレイ探触子を素子の配列方向に走査することにより素子間の受信感度分布とこの分布のピークを検出し、前記ピークが送信素子群の中心から一定の距離に収まる最大走査量を求めてこの値から反射体の寸法を評価するアレイ超音波探傷法。

IPC (3件)：

G01N 29/10 505 ,  G01N 29/22 504 ,  G01N 29/24 502

FI (3件)：

G01N 29/10 505 ,  G01N 29/22 504 ,  G01N 29/24 502