特許
J-GLOBAL ID:200903043125581087

粒子測定装置およびその粒子測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 野河 信太郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-095206
公開番号(公開出願番号):特開平7-301595
出願日: 1994年05月09日
公開日(公表日): 1995年11月14日
要約:
【要約】【目的】 摺動板の交換を簡略化して貫通孔を迅速かつ容易に測定位置に配置可能であるとともに高い測定精度を有する電気抵抗変化検出法による粒子測定装置およびその粒子測定方法を提供する。【構成】 粒子測定装置1は、試料容器2の間に配置され試料懸濁液が通過可能な検出孔8〜11を有する摺動板3と、一対の電極4a,4bとを備え、摺動板3の検出孔8〜11が選択可能な異なる複数の口径を有する貫通孔群から形成されている。駆動装置7の駆動により検出孔8〜11のうちの1つが連通孔2c,2dと対応する位置にあるとき、試料懸濁液が検出孔を通り抜ける際の電気インピーダンスに基づき粒径分布が測定解析される。
請求項(抜粋):
2つの試料容器の間に摺動可能に配置され試料懸濁液が前記双方の試料容器間を通過可能な貫通孔を有する摺動板と、前記双方の試料容器内に配置され試料容器に搬送される試料懸濁液と接触可能な一対の電極とを備え、これらの電極により、試料懸濁液が貫通孔を通過する際に生じる電気インピーダンスを測定し、その電気インピーダンスに基づき試料懸濁液中の粒子を測定する粒子測定装置であって、前記摺動板の貫通孔が、選択可能な異なる複数の口径を有する貫通孔群から形成されてなる粒子測定装置。

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