特許

J-GLOBAL ID：200903043194780636

測定装置

発明者： 中沢 勝則
出願人/特許権者： セイコー精機株式会社
代理人 (1件)： 和田 成則
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-130642
公開番号（公開出願番号）：特開平8-327759
出願日： 1995年05月29日
公開日（公表日）： 1996年12月13日
要約：

【要約】【目的】 測定対象や測定内容の変更に伴う開発リードタイムの短縮と信頼性の向上を図るのに好適な測定装置を提供する。【構成】 測定基板本体1を汎用親基板2と、これに着脱自在に実装される測定専用子基板3から構成する。親基板2には測定基本機能部200を、子基板3には測定専用機能部300を搭載し、測定基本機能部200は各種の測定対象の測定に共通で用いられる回路や機器、たとえば電源、パルスジェネレータ、A/Dコンバータ等により、測定専用機能部300は測定対象について予め定められた一定内容の測定に直接関わる機器や回路、たとえば電流検出器等から構成する。つまり各種の測定に共通で用いられる基本機能は親基板2に、予め定められた一定内容の測定に直接関わる専用機能は子基板3に与えるものとする。

請求項（抜粋）：

モータ、時計回路その他の電子部品を測定対象とし、その測定を行うための測定基板本体を具備する測定装置であって、上記測定基板本体が、測定対象についての各種の測定に共通で用いられる測定基本機能部を搭載した汎用親基板と、測定対象について予め定められた一定内容の測定に直接関わる測定専用機能部を搭載した測定専用子基板と、上記汎用親基板に測定専用子基板を着脱自在に実装し、この実装により上記測定基本機能部と測定専用機能部を接続して一つの測定回路を形成する接続手段と、からなることを特徴とする測定装置。

IPC (5件)：

G04D 7/00 ,  G01R 1/30 ,  G01R 19/00 ,  G01R 23/10 ,  G01R 31/28

FI (5件)：

G04D 7/00 A ,  G01R 1/30 ,  G01R 19/00 A ,  G01R 23/10 Z ,  G01R 31/28 H

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭57-008411
  
• 特開昭57-029961
  
• 特開平4-009775
  
• 特開昭63-201527