特許
J-GLOBAL ID:200903043198128372

物体の光学特性を測定するための装置および方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 社本 一夫 (外5名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-524634
公開番号(公開出願番号):特表2000-502804
出願日: 1997年01月02日
公開日(公表日): 2000年03月07日
要約:
【要約】色/光学特性測定システムおよび方法を開示する。周囲受光部光ファイバ/エレメント(7)が、中央光源光ファイバ/エレメント(5)から離間されて設けられ、物体(20)の表面からの反射光を受けて測定する。周囲光ファイバ(7)からの光は、種々のフィルタを通過する。本システムは、周囲受光部光ファイバ(7)を用いて、測定対象物体(20)に対するプローブ(1)の高さおよび角度に関する情報を判定する。プロセサの制御(20)の下で、所定の高さおよび角度において色の測定を行う。種々の色分光測光計の構成を開示する。半透明性、蛍光特性、および/または表面構造のデータも得ることができる。オーディオ・フィードバックを与えて、システムの使用法をオペレータに誘導することも可能である。プローブ(1)は、汚染防止のために、着脱自在のチップまたは遮蔽されたチップを有することも可能である。
請求項(抜粋):
物体の光学特性を判定する方法であって、 プローブを前記物体付近において移動させることにより前記物体を測定するステップであって、前記プローブが1つ以上の光源から前記物体の表面に光を供給し、複数の受光部を通じて前記物体からの反射光を受光するステップと、 前記1つ以上の受光部によって受光された反射光の強度を、第1のセンサによって判定するステップと、 前記第1のセンサによって行われた強度判定に応答して、1つ以上の前記受光部によって受光された光に基づいて、前記物体の光学特性を第2のセンサによって測定し、この測定により、前記物体の光学特性を示すデータを得るステップと、を含む方法。
IPC (2件):
G01J 3/46 ,  G01N 21/27
FI (2件):
G01J 3/46 Z ,  G01N 21/27 B
引用特許:
出願人引用 (4件)
  • 特開平3-296626
  • 特開平2-066429
  • 分光装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-166708   出願人:日本分光株式会社
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審査官引用 (6件)
  • 特開平3-296626
  • 特開平2-066429
  • 分光装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-166708   出願人:日本分光株式会社
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