特許
J-GLOBAL ID:200903043212893273

縦型絶縁ゲート型トランジスタの製法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 松隈 秀盛
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-344194
公開番号(公開出願番号):特開平6-196707
出願日: 1992年12月24日
公開日(公表日): 1994年07月15日
要約:
【要約】【目的】 XMOSトランジスタを確実に製造できるようにする。【構成】 半導体基板11に、選択的にソース領域ないしはドレイン領域(S/D領域)12を形成する工程と、半導体基板11上に、チャネル形成部となる突出部13を形成する工程と、突出部13の壁面13sにゲート絶縁層14を形成する工程と、ゲート絶縁層14に接して例えば対のゲート電極15を形成する工程とを採る。
請求項(抜粋):
半導体基板に、選択的にソース領域ないしはドレイン領域を形成する工程と、前記半導体基板上に、チャネル形成部となる突出部を形成する工程と、該突出部の壁面にゲート絶縁層を形成する工程と、該ゲート絶縁層に接してゲート電極を形成する工程とを採ることを特徴とする縦型絶縁ゲート型トランジスタの製法。
IPC (2件):
H01L 29/784 ,  H01L 29/44
引用特許:
審査官引用 (14件)
  • 特開平4-294585
  • 特開平4-294585
  • 特開平2-052469
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