特許
J-GLOBAL ID:200903043236911663

データ処理装置、放射線断層像撮像装置およびそれらの方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 佐藤 隆久
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-142248
公開番号(公開出願番号):特開2004-344243
出願日: 2003年05月20日
公開日(公表日): 2004年12月09日
要約:
【課題】高品質な断層像データを短時間で生成できる放射線断層像撮像装置を提供する。【解決手段】被検対象領域の一部についての断層像画像データIMPの標準偏差SDを検出し、当該検出した標準偏差SDがステップST1で設定した基準SDに対して所定の範囲内にあるか否かを判断する(ST6)。そして、その判断結果を基に、被検対象領域全体についての画像再構成を行う(ST8)か、スムージング処理のパラメータの値を変更する(ST7)かを決定する。【選択図】 図2
請求項(抜粋):
放射線を被検体に対して1回転以上連続的に照射し、前記被検体を透過した放射線の検出結果である第1の投影データを基に前記被検体の断層像を生成するデータ処理装置において、 前記断層像に生じるノイズに影響を及ぼす所定のパラメータを用いて、前記第1の投影データを補正して第2の投影データを生成する処理手段と、 前記処理手段が生成した前記第2の投影データを基に断層像を生成する断層像生成手段と、 前記被検体の被検対象領域のうち一部の領域について前記断層像生成手段が生成した部分断層像を基に、当該部分断層像に生じるノイズが所定の基準を満たすように前記所定のパラメータの値を変更するパラメータ値変更手段と を有するデータ処理装置。
IPC (1件):
A61B6/03
FI (1件):
A61B6/03 350F
Fターム (8件):
4C093AA22 ,  4C093BA13 ,  4C093CA10 ,  4C093CA13 ,  4C093CA15 ,  4C093FF01 ,  4C093FF06 ,  4C093FF21
引用特許:
審査官引用 (3件)

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