特許

J-GLOBAL ID：200903043238340973

パターンマッチング方法およびパターンマッチング装置

発明者： 西島 潤 ,  門脇 信諭 ,  谷脇 尚人 ,  藤原 祥雅 ,  薮田 明
出願人/特許権者： 松下電工株式会社
代理人 (1件)： 石田 長七 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-035725
公開番号（公開出願番号）：特開平8-235359
出願日： 1995年02月23日
公開日（公表日）： 1996年09月13日
要約：

【要約】【目的】検査対象パターンと標準パターンとの一致度を正確に評価する。【構成】パターンメモリ11は2値化画像である標準パターンを格納する。フレームメモリ12は2値化画像である検査対象パターンを格納する。標準パターンを検査対象パターンの位置に合わせるように補正部13で位置補正した後、比較処理部14において標準パターンと検査対象パターンとの一致しない画素を抽出する。重み係数メモリ15には標準パターンの各領域に、標準パターンの特徴を表す程度が高い領域ほど大きくなる重み係数が格納されている。比較処理部14で抽出された各画素には、乗算器16によって重み係数メモリ15に格納された重み係数を乗じて演算部17に与える。演算部17では乗算器16の出力値の総和を求め、この総和を用いて一致度を評価する。

請求項（抜粋）：

あらかじめ登録されている2値化画像である標準パターンに2値化画像である検査対象パターンを照合し、標準パターンと検査対象パターンとを重ね合わせるように位置合わせした後の対応する各画素間の値の差分の総和に基づいて検査対象パターンの標準パターンに対する一致度を評価するパターンマッチング方法において、標準パターンの各領域に標準パターンの特徴を表す程度が高いほど大きくなる重み係数を対応付け、各画素の値の差分に各画素の属する領域に応じた上記重み係数を乗じた値の総和を用いて検査対象パターンの標準パターンに対する一致度を評価することを特徴とするパターンマッチング方法。

IPC (3件)：

G06T 7/00 ,  G06K 9/62 630 ,  G06K 9/62 640

FI (3件)：

G06F 15/70 455 B ,  G06K 9/62 630 A ,  G06K 9/62 640 Z