スローアウェイチップ類の検査装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：黒田泰弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-034072
公開番号（公開出願番号）：特開平11-217116
出願日： 1998年01月30日
公開日（公表日）： 1999年08月10日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】スローアウェイチップ類の外観検査および寸法検査を自動的に能率よくしかも精度よく実施することができる検査装置を提供する。【解決手段】チップ供給機からの排出経路に、チップの姿勢を光学的に検出し一定の姿勢以外のチップを経路外に排除するチップ整列検査機構5を設け、該チップ整列検査機構よりも下流の経路に、チップが公差寸法以内に収まっているかどうかを検出し異物付着等により公差を越える不良チップを経路外に排除する形状検査用の第1検査機構6を設け、該第1検査機構の下流の経路に、レーザー帯の投光器と受光器により光学的にチップ寸法を検査し寸法不合格チップを経路外に排除する寸法検査用の第2検査機構7を設けた。

請求項（抜粋）：

チップ供給機からの排出経路に、チップの姿勢を光学的に検出する手段と一定の姿勢以外のチップを経路外に排除する手段とを備えたチップ整列検査機構を設け、該チップ整列検査機構よりも下流の経路には、チップの公差上限寸法の検出用切欠きを有する昇降自在なゲートとこの検出用切欠きを通過しえないチップを経路外に排除する手段とを備えた形状検査用の第1検査機構を設け、該第1検査機構の下流の経路には、レーザー帯の投光器と受光器を備えた光学的寸法検出手段と寸法不合格チップを経路外に排除する手段とを備えた寸法検査用の第2検査機構を設けたことを特徴とするスローアウェイチップ類の検査装置。

IPC (6件)：

B65G 47/14 101 , B07C 5/10 , G01B 5/00 , G01B 5/02 , G01B 11/24 , G01B 21/00

FI (6件)：

B65G 47/14 101 B , B07C 5/10 , G01B 5/00 H , G01B 5/02 Y , G01B 11/24 A , G01B 21/00 H

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