特許
J-GLOBAL ID：200903043323965516
非破壊検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐藤 一雄 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-015422
公開番号（公開出願番号）：特開平8-210994
出願日： 1995年02月01日
公開日（公表日）： 1996年08月20日
要約：
【要約】【目的】 判定結果の信頼性を向上させ、かつ、処理能力を高めることのできる非破壊検査装置を提供する。【構成】 X線や超音波等を、検査対象領域に照射し、その透射像又は反射像のプロファイルに基づいて被検査物体を非破壊にて検査するに当たり、正常な物体のプロファイルに対応する基準データが予め内部に登録され、この基準データと被検査物体のプロファイルのデータとを比較して被検査物体の合否を判定する判定手段を備える。
請求項（抜粋）：
X線や超音波等を、検査対象領域に照射し、その透射像又は反射像のプロファイルに基づいて被検査物体を非破壊にて検査する非破壊検査装置において、正常な物体のプロファイルに対応する基準データが予め内部に登録され、この基準データと前記被検査物体のプロファイルのデータとを比較して前記被検査物体の合否を判定する判定手段を備えたことを特徴とする非破壊検査装置。
IPC (3件)：
G01N 23/04
, G01N 29/10
, G01N 29/22 501
