特許
J-GLOBAL ID：200903043324751730
3次元形状測定における光切断線の重心位置算出方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
岸本 瑛之助 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-230552
公開番号（公開出願番号）：特開平6-074724
出願日： 1992年08月28日
公開日（公表日）： 1994年03月18日
要約：
【要約】【目的】 光切断法を用いた3次元形状測定において、光切断線の重心位置算出のばらつきを小さくし、精度向上を可能にするとともに、2次元撮像素子の必要移動量を小さくする。【構成】 X軸およびY軸方向の複数の画素9よりなる画素集合体10を有する2次元撮像素子8を基準位置に位置させて光切断線像14を撮像し、このときにY軸方向の所定位置において光切断線像が結像している画素を全て検出してこれを測定対象画素Sa、Sb、Scとし、2次元撮像素子をX軸方向に画素間ピッチdより小さいステップ量ずつ複数回移動させて、X軸方向の複数の位置における各測定対象画素の光量を測定し、2次元撮像素子のX軸方向の位置と各位置における各測定対象画素の光量を用いて上記基準位置におけるX軸方向の光切断線像の重心位置を算出する。
請求項（抜粋）：
直交2軸方向の複数の画素よりなる画素集合体を有する2次元撮像素子を用いて、光切断法により3次元形状測定を行なうに際し、2次元撮像素子で撮像した光切断線の画素集合体上の位置を決定するために、画素集合体の一方の軸方向の所定位置における光切断線の他方の軸方向の重心位置を算出する方法であって、2次元撮像素子を3次元形状測定のための一定の基準位置に位置させた状態で光切断線を撮像し、このときに画素集合体の一方の軸方向の所定位置において光切断線が結像している画素を全て検出してこれを測定対象画素とし、2次元撮像素子を他方の軸方向に同方向の画素間ピッチより小さい一定のステップ量ずつ複数回移動させて、同移動軸方向の複数の位置における各測定対象画素の光量を測定し、2次元撮像素子の同移動軸方向の位置と各位置における各測定対象画素の光量を用いて上記基準位置における上記他方の軸方向の光切断線の重心位置を算出することを特徴とする3次元形状測定における光切断線の重心位置算出方法。
IPC (3件)：
G01B 11/24
, G06F 15/62 415
, G06F 15/70 360
