特許

J-GLOBAL ID：200903043374366129

荷電粒子検出装置

発明者： 廣岡 恵
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 野口 繁雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-155191
公開番号（公開出願番号）：特開平8-327742
出願日： 1995年05月29日
公開日（公表日）： 1996年12月13日
要約：

【要約】【目的】 ダイナミックレンジを広くする。【構成】 透明がラス基板30の表面には蛍光体のシンチレータ32が設けられ、対向する一対の端面の一方には光電子増倍管40a、他方には他の光電子増倍管40bが設置され、両光電子増倍管40a,40bのゲインが互いに異なる大きさに設定されている。ガラス基板30の裏面及び光電子増倍管40a,40bの設置されていない端面には光反射層36が形成されている。両光電子増倍管40a,40bにはシンチレータ32から発生する光が光反射層36で反射して同量ずつ入射し、互いにゲインの異なる出力信号を発生する。

請求項（抜粋）：

透明ガラス基板の表面にシンチレータが形成され、その透明ガラス基板の対向する一対の端面には互いにゲインの異なる光電子増倍管がそれぞれ設置され、その透明ガラス基板の裏面及び光電子増倍管の設置されていない端面が光反射面になっていることを特徴とする荷電粒子検出装置。