特許
J-GLOBAL ID:200903043388424539

製品一貫品質管理装置及び製品一貫品質管理方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 工藤 実 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-228663
公開番号(公開出願番号):特開2003-044546
出願日: 2001年07月27日
公開日(公表日): 2003年02月14日
要約:
【要約】【課題】プラントに発生するトラブルを速く解消すること。【解決手段】製品に関して設計される設計値36、実際に測定される計測値38およびトラブルの履歴40を含む製品情報を記録する製品データベース21と、トラブルの内容41と検査するべき複数の検査方法45とを対応づけて記録するトラブルデータベース22と、設計値36と計測値38と履歴40とを統計処理する統計部26と、統計処理の結果に基づいて複数の検査方法45を実行する順番を示す検査手順を作成する検査手順作成部27とを具備している。このような検査手順は、原因事象をより早期に発見することができる。その結果、プラント15は、休止期間が短く、トラブル解消に要するコストを低減することができる。
請求項(抜粋):
製品に関する情報である製品情報を記録する製品データベースと、前記製品から形成されるプラントに発生するトラブルの内容と前記トラブルが発生した後に検査するべき複数の検査方法とを対応づけて記録するトラブルデータベースと、前記製品情報に基づいて前記複数の検査方法を実行する順番を示す検査手順を作成する検査手順作成部とを具備する製品一貫品質管理装置。
IPC (4件):
G06F 17/60 106 ,  G06F 17/60 504 ,  F02C 7/00 ,  G05B 19/418
FI (4件):
G06F 17/60 106 ,  G06F 17/60 504 ,  F02C 7/00 D ,  G05B 19/418 Z
Fターム (4件):
3C100AA57 ,  3C100AA68 ,  3C100BB27 ,  3C100CC11

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