特許
J-GLOBAL ID：200903043397967880

変位検出装置及びレンズ鏡筒

発明者：
岡崎 光宏

岡崎 光宏 について


出願人/特許権者：
株式会社ニコン

株式会社ニコン について


代理人 (1件)： 鎌田 久男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-340298
公開番号（公開出願番号）：特開2003-139567
出願日： 2001年11月06日
公開日（公表日）： 2003年05月14日
要約：
【要約】【課題】 スケールに対して検出部材が傾くことなく、十分な検出信号を得ることができ、また、ガタもなく、正確にスケールを読み取ることができる変位検出装置を、低コストで提供する。【解決手段】 MR素子147を保持するホルダ145を、ばね性を有する薄板から成る支持板162によりZ軸方向に軽い力で移動可能なように支持し、加圧ばね141によりホルダ145ごとスケール130に加圧する。また、加圧ばね141と支持板162は、長手方向がスケール130の移動方向に沿う方向に配置されている。更に、支持板162は、ほぼ接触平面上に設けられている。
請求項（抜粋）：
固定部材に対して相対的に変位可能に設けられた可動部材の変位を検出する変位検出装置であって、前記可動部材と一体的に変位可能に設けられたスケールと、前記スケールに直接的又は間接的に接触し、前記スケールの変位を検出する変位検出部と、前記変位検出部の前記スケールとの接触位置において前記スケールに接する接触平面に略直交する方向に移動可能であり、前記接触平面に略直交する方向以外の移動は、規制された状態で前記変位検出部を支持する支持部材と、前記変位検出部を前記スケールに対して加圧する加圧部材と、を備える変位検出装置。
IPC (4件)：
G01D 5/245 ,  G01B 7/00 ,  G02B 7/02 ,  G02B 7/08
FI (5件)：
G01D 5/245 X ,  G01D 5/245 R ,  G01B 7/00 J ,  G02B 7/02 E ,  G02B 7/08 C
Fターム (22件)：
2F063AA02 ,  2F063BA00 ,  2F063BC02 ,  2F063CA21 ,  2F063DA02 ,  2F063DB07 ,  2F063DC02 ,  2F063DD02 ,  2F063EB18 ,  2F063GA52 ,  2F063GA68 ,  2F077AA42 ,  2F077AA49 ,  2F077NN04 ,  2F077NN17 ,  2F077PP14 ,  2F077VV02 ,  2F077VV14 ,  2F077VV31 ,  2H044AE01 ,  2H044BE18 ,  2H044DC01
引用特許：
審査官引用 (3件)
  • 特開平2-236120
  • 特開平2-236120
  • 磁気式エンコーダー
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-151442   出願人：日立金属株式会社

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