特許
J-GLOBAL ID：200903043434040856
変位角測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
磯野 道造
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-040594
公開番号（公開出願番号）：特開2004-251678
出願日： 2003年02月19日
公開日（公表日）： 2004年09月09日
要約：
【課題】構造物に簡単に取り付けることができ、複雑な構成など必要なく、継続的に構造物の層間変位角を測定できる変位角測定装置を提供する。【解決手段】構造物1に備えた第1発光ダイオード2と第2発光ダイオード3から照射される照射光2a,3aを第1PSDセンサ4の検出部4b,第2PSDセンサ5の検出部5bで検出し、照射光2a,3aの移動量からパソコン7を用いて高精度で簡単に構造物1の層間変位角を導出する。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
構造物の所定の変位計測位置の変位角を測定する変位角測定装置であって、
前記構造物の測定点に備えた第1光照射手段と、
前記測定点に対して基準となる基準点に備えた第2光照射手段と、
前記第1光照射手段の照射光を検出する第1光検出手段と、
前記第2光照射手段の照射光を検出する第2光検出手段と、
前記第1光検出手段と第2光検出手段で検出された前記照射光から前記構造物の変位角を導出する解析手段とを備え、
前記第1光検出手段と第2光検出手段は、同一の設置点に設けられ、
前記解析手段は、前記測定点と前記設置点と前記基準点とのなす角を変位前と変位後で比較して、前記構造物の変位角を導出することを特徴とする変位角測定装置。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G01C15/00 103C
, G01C15/00 104Z
