特許
J-GLOBAL ID：200903043441878164

クリーニング装置、並びにこれを備えるプロセスユニット及び画像形成装置

発明者：
杉浦 健治

杉浦 健治 について

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矢野 英俊

矢野 英俊 について

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成瀬 修

成瀬 修 について

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杉本 奈緒美

杉本 奈緒美 について

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瀬下 卓弥

瀬下 卓弥 について

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山下 康之

山下 康之 について


出願人/特許権者：
株式会社リコー

株式会社リコー について


代理人 (1件)： 黒田 壽
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-068085
公開番号（公開出願番号）：特開2007-248525
出願日： 2006年03月13日
公開日（公表日）： 2007年09月27日
要約：
【課題】 像担持体表面上に微粒子を供給し、微粒子とともに像担持体表面から放電生成物を除去するものであって、潜像を形成する画像情報に左右されることなく、像担持体表面から放電生成物を除去することができ、放電生成物が付着した微粒子をより確実に除去することができるクリーニング装置、並びにこれを用いるプロセスユニット及び画像形成装置を提供する。【解決手段】 放電生成物除去モードとして、非画像形成時に微粒子であるトナーを微粒子供給手段としての現像装置から像担持体である感光体2Yの表面に供給し、第一クリーニングブラシ102Y及び第二クリーニングブラシ112Y、第一回収ローラ105Y及び第二回収ローラ115Y、及び第一ローラ電源回路101Y及び第二ローラ電源回路111Yからなる静電クリーニング手段を用いて、感光体2Y表面に供給されたトナーを感光体2Y表面上から静電的クリーニングする。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
画像形成に用いられる像担持体の表面の異物を除去するクリーニング装置において、 非画像形成時に該像担持体表面に微粒子を供給する微粒子供給手段と、 該像担持体表面に供給された該微粒子を該像担持体表面から静電的に除去する静電クリーニング手段とを備えることを特徴とするクリーニング装置。
IPC (6件)：
G03G 21/00 ,  G03G 21/10 ,  G03G 9/08 ,  G03G 5/08 ,  G03G 5/147 ,  G03G 5/07
FI (8件)：
G03G21/00 ,  G03G21/00 314 ,  G03G21/00 318 ,  G03G9/08 ,  G03G5/08 105 ,  G03G5/147 503 ,  G03G5/07 101 ,  G03G5/147 502
Fターム (38件)：
2H005AA15 ,  2H068AA03 ,  2H068AA04 ,  2H068AA13 ,  2H068BB27 ,  2H068BB49 ,  2H068CA33 ,  2H068CA37 ,  2H068DA00 ,  2H134GA01 ,  2H134GB02 ,  2H134GB06 ,  2H134GB08 ,  2H134HB00 ,  2H134HB03 ,  2H134HB12 ,  2H134HB16 ,  2H134HB17 ,  2H134HB18 ,  2H134HD00 ,  2H134HD06 ,  2H134HD17 ,  2H134KA28 ,  2H134KA30 ,  2H134KB03 ,  2H134KB13 ,  2H134KB20 ,  2H134KD06 ,  2H134KD07 ,  2H134KD08 ,  2H134KD14 ,  2H134KF03 ,  2H134KG07 ,  2H134KG08 ,  2H134KH01 ,  2H134KH04 ,  2H134KH13 ,  2H134KH15
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (3件)

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